射频识别标签芯片测试与逻辑设计技术
- 成果编号
- 06595
- 完成单位
- 南通大学
- 完成时间
- 2014年
- 成熟程度
- 研制阶段
- 价格
- 面议
- 服务产业领域
- 电子信息
- 单位类别
- 其他高校
| 科技计划 | 成果形式 |
|---|---|
| 新技术 | |
| 合作方式 | 参加活动 |
技术开发 |
|
| 专利情况 | |
正在申请 ,其中:发明专利 2 项 |
| 综合介绍 |
|---|
射频识别（Radio Frequency Identification，RFID）是通过无线射频方式获取物体的相关数据，并对物体加以识别，是一种非接触式的自动识别技术。RFID标签芯片由于面积小无源功能复杂，造成测试时间长测试成本高。本成果研发了一套快速并行测试技术，减少了测试时间，降低了测试成本。 |
| 创新要点 |
利用上位机、FPGA开发板及自主研发的外围配套电路及相关接口，建立自动化测试的高密度多通道晶圆测试平台，可以实现较低成本的高密度多通道晶圆检测工作。采用并行测试方法，在降低硬件成本的基础上，研究上位机自动化测试软件。通过软件完成测试数据的编解码，协调整个测试系统的工作流程，使测试平台更加稳定并具有一定的灵活性。 |
| 技术指标 |
测试速度：每小时20000颗以上， 测试准确率：99％以上。 |
| 其他说明 |
可合作共同设计RFID标签芯片数字逻辑单元、存储器单元、数字逻辑单元版图、数字逻辑单元验证程序。 |
| 姓名 | 对接成功后可查看 | 所在部门 | 对接成功后可查看 |
|---|---|---|---|
| 职务 | 对接成功后可查看 | 职称 | 对接成功后可查看 |
| 手机 | 对接成功后可查看 | 对接成功后可查看 | |
| 电话 | 对接成功后可查看 | 传真 | 对接成功后可查看 |
| 邮编 | 对接成功后可查看 | 通讯地址 | 对接成功后可查看 |
| 姓名 | 对接成功后可查看 | 所在部门 | 对接成功后可查看 |
|---|---|---|---|
| 职务 | 对接成功后可查看 | 职称 | 对接成功后可查看 |
| 手机 | 对接成功后可查看 | 对接成功后可查看 | |
| 电话 | 对接成功后可查看 | 传真 | 对接成功后可查看 |
| 邮编 | 对接成功后可查看 | 通讯地址 | 对接成功后可查看 |
