CdZnTe高能射线探测材料与器件

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综合介绍
项目围绕探测器用CdZnTe晶体的制备与开发应用，采用改进的垂直布里奇曼技术，通过合理设计成分以及选择合适的掺杂元素和掺杂量，探索了优化的晶体生长和退火改性工艺，生长出满足探测器要求的高性能CdZnTe晶体。围绕对X射线和γ射线等不同能量射线检测及应用的要求，解决了探测器用CdZnTe晶体的磨抛加工、表面处理以及接触电极的制备难题，建立了探测器用CdZnTe晶片的筛选机制和生产线，制备了对X射线和γ射线响应良好的CdZnTe探测器，实现了CdZnTe晶体和探测器的小批量生产，可广泛应用于环境监测、核技术、医学诊断、工业无损检测、安全检查、天文观测等领域。
创新要点
以常压布里奇曼法为基础，发明了对流控制、成分补偿、元素掺杂和可控气氛退火等12项专利技术，获得了探测器级CZT单晶高效率、低成本的成套制备技术。
技术指标
CZT探测器对241Am@59.5keV的能谱分辨率优于5%,对137Cs@662keV的分辨率优于2%。且成品率比高压布里奇曼法提高了2~3倍，生产效率比THM法提高3倍以上，综合成本降低50%以上。
其他说明
该技术获2013年国家技术发明二等奖，授权发明专利11项。

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